簡單介紹：HemiView 數(shù)字植物冠層分析儀通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。HemiView 數(shù)字植物冠層分析儀軟件可以計(jì)算輻射指標(biāo)、冠層指標(biāo)、測量地點(diǎn)的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布等。
HemiView 數(shù)字植物冠層分析儀
數(shù)量（件）
價(jià)格（元/件）
- 發(fā)布時(shí)間：[2024-08-02 13:22]
- 產(chǎn)地：北京>北京市>海淀區(qū)
- 公司名稱：北京渠道科學(xué)儀器有限公司
- 聯(lián)系人：夔生
詳細(xì)信息HemiView 數(shù)字植物冠層分析儀
詳情介紹：
HemiView 數(shù)字植物冠層分析儀通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。HemiView 數(shù)字植物冠層分析儀軟件可以計(jì)算輻射指標(biāo)、冠層指標(biāo)、測量地點(diǎn)的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布等。原理：使用180度魚眼鏡頭和高清晰度數(shù)碼相機(jī)從植物冠層下方或森林地面向上取像, 再將數(shù)碼相機(jī)的高清晰度影像載入軟件，進(jìn)行分析處理。
HemiView 數(shù)字植物冠層分析儀技術(shù)規(guī)格：
| 圖像文件類型 | BMP、JPEG、TIF、Photo CD |
| 圖像分辨率 | 512×512——4368×2912（和數(shù)碼相機(jī)有關(guān)） |
| 鏡頭變形 | 能多種相關(guān)天頂角和光線距離 |
| 直射光模型 | 簡單的空氣傳遞，由用戶設(shè)置 |
| 散射光模型 | 統(tǒng)一或標(biāo)準(zhǔn)陰天 |
| 數(shù)據(jù)輸出 | Excel兼容表格格式 |
| 總像素 | 1510萬像素 |
| 支持圖片分辨率 | 4368×2912像素 |
| 魚眼透鏡視角 | 180° |
| 存儲容量 | 2GB，可擴(kuò)展 |
| 可伸縮單臂支架高度 | 0.69~1.66米 |
| 三腳架高度 | 1.73米 |
| 操作溫度 | +5~+55℃ |
HemiView 數(shù)字植物冠層分析儀輸出參數(shù)：
- ·天空幾何：質(zhì)心，立體角和像素計(jì)算用于每個(gè)天空扇區(qū)；
- ·間隙粒級：比例的可見天空扇區(qū)；
- ·葉面積指數(shù)：天空扇區(qū)或全部數(shù)值；
- ·太陽輻射：直射和散射，冠層上方和下方，能量或質(zhì)量單位；
- ·位置因數(shù)：直接，間接（散射），全部；
- ·時(shí)間序列和Sunflecks：可查看日期的日盤（半陰影作用）和太陽輻射，用戶自定義的采樣間隔時(shí)間或sunfleck順序；
- ·可選余弦修正：可用任何方位的截取表面；
- ·全部數(shù)值：大部分輸出能將天空扇區(qū)表格化，集合到單個(gè)全天空或年數(shù)值中。
